美瑞克Rek RK9920B程控耐壓測(cè)試儀本系列程控耐壓測(cè)試儀是采用高速M(fèi)CU和大規(guī)模數(shù)字電路設(shè)計(jì)的高性能的安規(guī)測(cè)試儀，其輸出電壓的大小，輸出電壓的上升、下降。輸出電壓的頻率安全由MCU控制，能實(shí)時(shí)顯...
查看詳情
產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
ME045/ME085/ME150PCB TDR特性阻抗測(cè)試儀
3380/3380P/3380D致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測(cè)試系統(tǒng)
SDS1122E+鼎陽(yáng)SDS1122E+數(shù)字示波器
UT89X/UT89XD優(yōu)利德UT89X/D系列專業(yè)NCV數(shù)字式萬(wàn)用表
MSO58/MSO56/MSO54泰克Tektronix MSO54/56/58混合信號(hào)示波器
UTG932/UTG962優(yōu)利德UTG932/UTG962函數(shù)任意波形發(fā)生器
E8900A德力 5G NR 信號(hào)分析儀
ME-2SYQ-2型淬火介質(zhì)冷卻特性測(cè)試儀
UT890C/D/C+/D+優(yōu)利德UT890C/D/C+/D+數(shù)字萬(wàn)用表
DS1202Z-E/DS1102Z-E普源 DS1202Z-E/DS1102Z-E 數(shù)字示波器
UTP1306S優(yōu)利德UTP1306S系列直流穩(wěn)壓電源
AN1640H/AN1651H艾諾Ainuo AN1640系列智能安規(guī)測(cè)試儀
UTD7072BG/UTD7102BG優(yōu)利德UTD7072BG/UTD7102BG數(shù)字存儲(chǔ)示波器
EDX6600多功能RoHs鹵素元素測(cè)試儀
艾諾 AN87310艾諾Ainuo AN87310 高精度單相功率計(jì)
UT582/UT585/UT586/UT582+優(yōu)利德UT582/UT585/T586漏電保護(hù)開(kāi)關(guān)測(cè)試儀
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心
product
產(chǎn)品分類0755-23217274
美瑞克Rek RK9920B程控耐壓測(cè)試儀本系列程控耐壓測(cè)試儀是采用高速M(fèi)CU和大規(guī)模數(shù)字電路設(shè)計(jì)的高性能的安規(guī)測(cè)試儀，其輸出電壓的大小，輸出電壓的上升、下降。輸出電壓的頻率安全由MCU控制，能實(shí)時(shí)顯...
查看詳情
美瑞克Rek RK9920A程控耐壓測(cè)試儀本系列程控耐壓測(cè)試儀是采用高速M(fèi)CU和大規(guī)模數(shù)字電路設(shè)計(jì)的高性能的安規(guī)測(cè)試儀，其輸出電壓的大小，輸出電壓的上升、下降。輸出電壓的頻率安全由MCU控制，能實(shí)時(shí)顯...
查看詳情
美瑞克Rek RK9910B程控耐壓測(cè)試儀本系列程控耐壓測(cè)試儀是采用高速M(fèi)CU和大規(guī)模數(shù)字電路設(shè)計(jì)的高性能的安規(guī)測(cè)試儀，其輸出電壓的大小，輸出電壓的上升、下降。輸出電壓的頻率安全由MCU控制，能實(shí)時(shí)顯...
查看詳情
美瑞克Rek RK9910A程控耐壓測(cè)試儀本系列程控耐壓測(cè)試儀是采用高速M(fèi)CU和大規(guī)模數(shù)字電路設(shè)計(jì)的高性能的安規(guī)測(cè)試儀，其輸出電壓的大小，輸出電壓的上升、下降。輸出電壓的頻率安全由MCU控制，能實(shí)時(shí)顯...
查看詳情
美瑞克Rek RK7051程控耐壓測(cè)試儀RK7051程控耐壓測(cè)試儀是測(cè)量耐壓強(qiáng)度的儀器, 可以直觀、準(zhǔn)確、快速地測(cè)試各種被測(cè)對(duì)象的擊穿電壓、漏電流等電氣安全性能指標(biāo)，并可以作為高壓源用來(lái)測(cè)試元器件和整...
查看詳情
美瑞克Rek RK7120 程控耐壓測(cè)試儀本系列程控耐壓測(cè)試儀是采用高速M(fèi)CU和大規(guī)模數(shù)字電路設(shè)計(jì)的高性能的安規(guī)測(cè)試儀，其輸出電壓的大小，輸出電壓的上升、下降。輸出電壓的頻率安全由MCU控制，能實(shí)時(shí)顯...
查看詳情
美瑞克Rek RK7110 程控耐壓測(cè)試儀本系列程控耐壓測(cè)試儀是采用高速M(fèi)CU和大規(guī)模數(shù)字電路設(shè)計(jì)的高性能的安規(guī)測(cè)試儀，其輸出電壓的大小，輸出電壓的上升、下降。輸出電壓的頻率安全由MCU控制，能實(shí)時(shí)顯...
查看詳情
美瑞克Rek RK2674-100 耐壓測(cè)試儀美瑞克RK2674系列超高耐壓測(cè)試儀是在吸收、消化G際X進(jìn)耐壓測(cè)試儀的基礎(chǔ)上，結(jié)合我國(guó)眾多用戶的實(shí)際使用情況加以提高、完善而研制?？梢灾庇^、準(zhǔn)確、快速地測(cè)...
查看詳情
美瑞克Rek RK2674-50 耐壓測(cè)試儀美瑞克RK2674系列超高耐壓測(cè)試儀是在吸收、消化GJXJ耐壓測(cè)試儀的基礎(chǔ)上，結(jié)合我國(guó)眾多用戶的實(shí)際使用情況加以提高、完善而研制?？梢灾庇^、準(zhǔn)確、快速地測(cè)試...
查看詳情
美瑞克Rek RK2674C 耐壓測(cè)試儀美瑞克RK2674系列耐壓測(cè)試儀是測(cè)量耐壓強(qiáng)度的儀器，可以直觀、準(zhǔn)確、快速地測(cè)試各種被測(cè)對(duì)象的擊穿電壓、漏電流等電氣安全性能指標(biāo)，并可以作為高壓源用來(lái)測(cè)試元器件...
查看詳情